TA的每日心情 | 擦汗 2026-3-17 22:01 |
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签到天数: 1133 天 [LV.10]大乘
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我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后; _4 j+ f) @# x% d% c0 n, p
/ A! F! |2 F. c0 ?- U关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下来了,后来再找发现这哥们应该是给删了,我贴在这里,反正爱坛小众,不太应该会有人追杀到这里0 s# {% @8 l; M0 k( x6 i
. J: c7 p/ |7 }* S; u$ K$ C1 _. M* D作者:Dio-晶6 r) w5 f- z' @, m0 n# T
给韬一点自信
; ~2 m# O+ j$ i C% `黑子蛮多,评价所谓韬不就是堆叠、3D集成、先进封装什么的,并引用台积电、AMD的材料为参照,是业界通用能力,叠加EUV还能更强 :)
3 b5 O* U7 I+ e" C6 c& G那为啥不做呢? 你想过没有?
$ B; r$ ~ T+ S' t* m8 N3 E1 V4 f为何世人知其路,而罕至其深处?
+ L* W' A0 z* T& \: c' o9 b. ]( {2 y3 I诚然AMD也有MIXXX系列的3D结构,BroadCom也有相应3.5D什么的路标。
+ ~) S) ?9 n1 E- |9 o7 y学术界论文更是汗牛充栋,工业届为啥没有再进几步,更深入折叠一下?
. j6 f& j8 K P其实这真的是一个岔路口!!!!!
# I2 q# P+ @% r5 c' |: d- e讲几个简单的逻辑,原本我是准备在会上回答的,奈何没人问,sign。
3 ?: o% ~7 j% {- P/ t# s8 G1、TSV,也就是所谓打孔(其实还包括一些其他3D特征的对象和rule),它们其实是一种Device,在加工上和一个FET管子是同等级别的特征的。但是,功能上的管子,例如NAND2,是工艺原生之子,而TSV是工艺后生之客。% @+ r6 p' R7 U( e" p
啥意思呢? 就是你定义一个2nm的工艺的时候,在第一天是不会考虑TSV这种器件的,因为它只会让你的刀变慢 :) 3 t9 c2 S- t$ G7 |
几乎所有的TSV设计,都是在工艺成熟之后再叠加的。也就是工艺研发需要二次入场,这种研发的复杂度比原生第一次的研发要麻烦很多很多。
' q5 ?$ e% _! I- v既熟则安,既利则惰,Fab能在先进工艺赚钱,就没人愿意二次开发新器件。
3 i, L8 M* M+ _5 G而且越先进的工艺,原生Cell,就是NAND2越脆弱,越经历不起万针扎身的淬炼。你看AMD的Bottom就还只到6nm,很难前进的。
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2 p* }$ i9 i6 A2、其实折叠互联这事,天生与工艺精度是反方向的。你再想想那个Gear Ratio,也就是何总那张图,要令上下 Die 之中,标准单元直连相通,便需要Bonding Pitch 逼近 Cell 尺寸,而Cell 愈小、工艺愈进,Pitch 便要愈小。" e- B; l, @7 m6 U
你且算算,2nm的工艺如果要上下NAND2直接连上(也就是细粒度的逻辑折叠),需要Bonding Pitch压缩到多少nm? 能做得到吗? 细折易言,直通难行
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& E/ |) Q& M+ {( R0 _3、工艺微缩之后,需要的金属层数也越来越多,例如Nvidia BlackWell,他的金属层数到22层了(手机多少我不知道),因为晶体管足够密,你必须要足够的金属层才能把它们互联起来。但是,这事又背道而驰了。金属层愈多,堆叠之后垂直路径愈长、愈复杂。还有一个一般人忽视的事情,金属层多了,再磨薄,这个wafer的bow值就会很大(懂得自然懂),对Bonding的精度、难度要求都变高无数。先写这几点吧 :) 需要再补充: C5 [/ @! L! p
" Z+ f5 ~+ c9 i- u所以,有些事,做一做,感受不一样。- s6 q. F7 U* m+ T+ t
事非经过不知难,成如容易却艰辛。3 \# P# n* I$ D& z/ i* G3 p
事在人为,道在躬行。
4 Q, Y D/ a/ ?; \: G. k不妨自信一点 :)
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