TA的每日心情 | 擦汗 2026-3-17 22:01 |
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签到天数: 1133 天 [LV.10]大乘
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4 @$ O. B7 V2 O1 |& f( w# J1 R- S我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后
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6 I: O! }7 Z0 s" X/ x关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下来了,后来再找发现这哥们应该是给删了,我贴在这里,反正爱坛小众,不太应该会有人追杀到这里8 n. T( j+ h+ D/ F/ _. N+ z
& X& |" _; i6 |" ^9 w作者:Dio-晶# y; R5 y* y! P- W8 f
给韬一点自信
$ _3 [$ \* W; }5 M& C) h黑子蛮多,评价所谓韬不就是堆叠、3D集成、先进封装什么的,并引用台积电、AMD的材料为参照,是业界通用能力,叠加EUV还能更强 :)
1 Z, ~$ @1 `0 O3 D& m6 @那为啥不做呢? 你想过没有?
+ D W2 i1 n( G/ ~为何世人知其路,而罕至其深处?, O4 D7 x7 c G
诚然AMD也有MIXXX系列的3D结构,BroadCom也有相应3.5D什么的路标。- g, A" g% x- |. M
学术界论文更是汗牛充栋,工业届为啥没有再进几步,更深入折叠一下? ! t) X0 L% n" G8 k
其实这真的是一个岔路口!!!!!5 L4 B* [8 ?2 h
讲几个简单的逻辑,原本我是准备在会上回答的,奈何没人问,sign。
5 i" V; y4 i' o8 P3 I0 w1、TSV,也就是所谓打孔(其实还包括一些其他3D特征的对象和rule),它们其实是一种Device,在加工上和一个FET管子是同等级别的特征的。但是,功能上的管子,例如NAND2,是工艺原生之子,而TSV是工艺后生之客。2 s3 T* ^5 t0 ?, `4 O: g7 o) t
啥意思呢? 就是你定义一个2nm的工艺的时候,在第一天是不会考虑TSV这种器件的,因为它只会让你的刀变慢 :) 2 l% p/ g+ F* S# k
几乎所有的TSV设计,都是在工艺成熟之后再叠加的。也就是工艺研发需要二次入场,这种研发的复杂度比原生第一次的研发要麻烦很多很多。
0 X2 F9 [% L2 k* `/ l4 e既熟则安,既利则惰,Fab能在先进工艺赚钱,就没人愿意二次开发新器件。
0 X5 ` E) A4 J1 p" U$ z, P而且越先进的工艺,原生Cell,就是NAND2越脆弱,越经历不起万针扎身的淬炼。你看AMD的Bottom就还只到6nm,很难前进的。
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0 G, p1 F8 b( S2、其实折叠互联这事,天生与工艺精度是反方向的。你再想想那个Gear Ratio,也就是何总那张图,要令上下 Die 之中,标准单元直连相通,便需要Bonding Pitch 逼近 Cell 尺寸,而Cell 愈小、工艺愈进,Pitch 便要愈小。6 D* Y: @5 D% V! N' E/ ^
你且算算,2nm的工艺如果要上下NAND2直接连上(也就是细粒度的逻辑折叠),需要Bonding Pitch压缩到多少nm? 能做得到吗? 细折易言,直通难行/ D" C. F2 i; I9 R( P( [
7 A5 _4 v6 w# f8 n* L) ~, j3、工艺微缩之后,需要的金属层数也越来越多,例如Nvidia BlackWell,他的金属层数到22层了(手机多少我不知道),因为晶体管足够密,你必须要足够的金属层才能把它们互联起来。但是,这事又背道而驰了。金属层愈多,堆叠之后垂直路径愈长、愈复杂。还有一个一般人忽视的事情,金属层多了,再磨薄,这个wafer的bow值就会很大(懂得自然懂),对Bonding的精度、难度要求都变高无数。先写这几点吧 :) 需要再补充
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4 k/ t/ m4 ^4 Z% ?0 C- n6 b所以,有些事,做一做,感受不一样。
: f) k& B5 |) O, w! z" h事非经过不知难,成如容易却艰辛。
' I9 @$ _* f4 j' \9 ^" v, Y事在人为,道在躬行。
. @# C/ k6 F; S3 ?* P不妨自信一点 :)
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