TA的每日心情 | 擦汗 2026-3-17 22:01 |
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- ?( H% n; e# s我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后* y4 ^& ]3 v0 L% j# Q+ H
, _4 r, a- Y+ v2 s3 ~: P, Y: x8 d关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下来了,后来再找发现这哥们应该是给删了,我贴在这里,反正爱坛小众,不太应该会有人追杀到这里3 p, |+ y- |5 z4 ^
2 Z% E8 V0 b1 S, S* ?2 q9 y作者:Dio-晶
5 k! _) h% a2 v$ Z给韬一点自信
2 n1 E# w+ n- F0 v黑子蛮多,评价所谓韬不就是堆叠、3D集成、先进封装什么的,并引用台积电、AMD的材料为参照,是业界通用能力,叠加EUV还能更强 :)6 {: A5 g- p- ]$ p J7 D
那为啥不做呢? 你想过没有? 7 D* ]- \ R' O* i4 y3 Y5 H
为何世人知其路,而罕至其深处?
% J3 p& V: d7 `" L- d/ |诚然AMD也有MIXXX系列的3D结构,BroadCom也有相应3.5D什么的路标。. V1 y; A& p. Z! W
学术界论文更是汗牛充栋,工业届为啥没有再进几步,更深入折叠一下?
x3 e. P2 q! V! Z3 y其实这真的是一个岔路口!!!!!( C* Q w1 T5 @' J
讲几个简单的逻辑,原本我是准备在会上回答的,奈何没人问,sign。
3 }4 E# `& a3 F W7 q1、TSV,也就是所谓打孔(其实还包括一些其他3D特征的对象和rule),它们其实是一种Device,在加工上和一个FET管子是同等级别的特征的。但是,功能上的管子,例如NAND2,是工艺原生之子,而TSV是工艺后生之客。
2 l; v9 Q2 X2 q& q0 b啥意思呢? 就是你定义一个2nm的工艺的时候,在第一天是不会考虑TSV这种器件的,因为它只会让你的刀变慢 :) 2 n! I& J4 X! o0 Y4 L/ h
几乎所有的TSV设计,都是在工艺成熟之后再叠加的。也就是工艺研发需要二次入场,这种研发的复杂度比原生第一次的研发要麻烦很多很多。! g. F6 r8 N# [% i8 u; C# j
既熟则安,既利则惰,Fab能在先进工艺赚钱,就没人愿意二次开发新器件。
$ I) U: L% l3 b7 X+ K" h; V而且越先进的工艺,原生Cell,就是NAND2越脆弱,越经历不起万针扎身的淬炼。你看AMD的Bottom就还只到6nm,很难前进的。
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2、其实折叠互联这事,天生与工艺精度是反方向的。你再想想那个Gear Ratio,也就是何总那张图,要令上下 Die 之中,标准单元直连相通,便需要Bonding Pitch 逼近 Cell 尺寸,而Cell 愈小、工艺愈进,Pitch 便要愈小。+ W$ i/ V- s# j( A. ~! {, l5 I0 y
你且算算,2nm的工艺如果要上下NAND2直接连上(也就是细粒度的逻辑折叠),需要Bonding Pitch压缩到多少nm? 能做得到吗? 细折易言,直通难行* D t5 D, Z4 R8 C" j2 u9 J
* @! ~7 {, D4 L4 ]9 G3、工艺微缩之后,需要的金属层数也越来越多,例如Nvidia BlackWell,他的金属层数到22层了(手机多少我不知道),因为晶体管足够密,你必须要足够的金属层才能把它们互联起来。但是,这事又背道而驰了。金属层愈多,堆叠之后垂直路径愈长、愈复杂。还有一个一般人忽视的事情,金属层多了,再磨薄,这个wafer的bow值就会很大(懂得自然懂),对Bonding的精度、难度要求都变高无数。先写这几点吧 :) 需要再补充4 N4 W8 n# H& N# J, p8 k. k
: [, B5 X$ z9 l( w$ t( q所以,有些事,做一做,感受不一样。
9 M: V; }7 u1 n0 Y- {% f/ {4 s8 x4 F事非经过不知难,成如容易却艰辛。
; o. Y. d8 X; J* F% a' V" j事在人为,道在躬行。. }% H* q4 g/ Z+ i6 P9 V
不妨自信一点 :)" I/ Y5 i& u* B; E% P; I$ u
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