TA的每日心情 | 擦汗 2026-3-17 22:01 |
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# ]; K3 w) x4 D9 Z; Q我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后" e! b5 B/ L) v: y1 b
" X1 ~" {. a2 m5 L0 V关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下来了,后来再找发现这哥们应该是给删了,我贴在这里,反正爱坛小众,不太应该会有人追杀到这里. } ]( \' N r, F6 c: z' M2 L0 I
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作者:Dio-晶8 f+ _# u' v% ?, P! g% q1 I
给韬一点自信1 h4 Z) ~! a$ A$ ]& W5 y s: T
黑子蛮多,评价所谓韬不就是堆叠、3D集成、先进封装什么的,并引用台积电、AMD的材料为参照,是业界通用能力,叠加EUV还能更强 :)* M1 s1 D% s I6 T8 {6 s; x; r
那为啥不做呢? 你想过没有? ; v" R) P6 K1 F1 j, R+ C
为何世人知其路,而罕至其深处?, O0 m# Y0 [5 u0 c- l9 y
诚然AMD也有MIXXX系列的3D结构,BroadCom也有相应3.5D什么的路标。& d O( L5 W; j8 w3 p2 S( o" i
学术界论文更是汗牛充栋,工业届为啥没有再进几步,更深入折叠一下? 8 t) J. D7 Z0 [4 j& n
其实这真的是一个岔路口!!!!!
% R- F6 M {% C& C s J( @讲几个简单的逻辑,原本我是准备在会上回答的,奈何没人问,sign。% p* o) n1 t* p7 o; j8 q7 r
1、TSV,也就是所谓打孔(其实还包括一些其他3D特征的对象和rule),它们其实是一种Device,在加工上和一个FET管子是同等级别的特征的。但是,功能上的管子,例如NAND2,是工艺原生之子,而TSV是工艺后生之客。% J7 t W- Z! Z4 M Y4 C0 ]
啥意思呢? 就是你定义一个2nm的工艺的时候,在第一天是不会考虑TSV这种器件的,因为它只会让你的刀变慢 :)
; Y$ T8 _2 v" i7 m几乎所有的TSV设计,都是在工艺成熟之后再叠加的。也就是工艺研发需要二次入场,这种研发的复杂度比原生第一次的研发要麻烦很多很多。6 _& K- b# d3 W! }
既熟则安,既利则惰,Fab能在先进工艺赚钱,就没人愿意二次开发新器件。
+ U- K8 \. x2 j* J而且越先进的工艺,原生Cell,就是NAND2越脆弱,越经历不起万针扎身的淬炼。你看AMD的Bottom就还只到6nm,很难前进的。
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4 m7 w$ R% `9 w0 L" ^* o2、其实折叠互联这事,天生与工艺精度是反方向的。你再想想那个Gear Ratio,也就是何总那张图,要令上下 Die 之中,标准单元直连相通,便需要Bonding Pitch 逼近 Cell 尺寸,而Cell 愈小、工艺愈进,Pitch 便要愈小。
. V* K* Q, u0 h7 ^6 @ j; ]你且算算,2nm的工艺如果要上下NAND2直接连上(也就是细粒度的逻辑折叠),需要Bonding Pitch压缩到多少nm? 能做得到吗? 细折易言,直通难行; Z8 i I* E+ s
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3、工艺微缩之后,需要的金属层数也越来越多,例如Nvidia BlackWell,他的金属层数到22层了(手机多少我不知道),因为晶体管足够密,你必须要足够的金属层才能把它们互联起来。但是,这事又背道而驰了。金属层愈多,堆叠之后垂直路径愈长、愈复杂。还有一个一般人忽视的事情,金属层多了,再磨薄,这个wafer的bow值就会很大(懂得自然懂),对Bonding的精度、难度要求都变高无数。先写这几点吧 :) 需要再补充0 A' ?8 Z; J \; T/ x
$ j2 p, B$ z/ b1 F l3 K' Q所以,有些事,做一做,感受不一样。
a0 D' e" k5 V' ]; i' w事非经过不知难,成如容易却艰辛。 W+ `# \! w. a! G6 M5 O& W
事在人为,道在躬行。) |. w" i: h3 c5 g) k/ G# R
不妨自信一点 :)/ y+ e! L5 ]) ?
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