TA的每日心情 | 擦汗 2026-3-17 22:01 |
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我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后
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' g& g2 B! G* S3 w关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下来了,后来再找发现这哥们应该是给删了,我贴在这里,反正爱坛小众,不太应该会有人追杀到这里
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. ?+ [! Y7 j6 F/ O0 X) w作者:Dio-晶) B3 L: @3 b+ W% V, s/ l5 g
给韬一点自信$ U( p6 [0 U; G6 Z1 Q
黑子蛮多,评价所谓韬不就是堆叠、3D集成、先进封装什么的,并引用台积电、AMD的材料为参照,是业界通用能力,叠加EUV还能更强 :)* q# D: O1 h$ R& G% j
那为啥不做呢? 你想过没有? , v" t! |( ~$ `: R0 z; l
为何世人知其路,而罕至其深处?
" z4 N3 K" H: ^7 _诚然AMD也有MIXXX系列的3D结构,BroadCom也有相应3.5D什么的路标。1 K" N# M8 ?. P
学术界论文更是汗牛充栋,工业届为啥没有再进几步,更深入折叠一下?
3 `% c) S1 U$ k% s其实这真的是一个岔路口!!!!!3 ]3 J- |* o" b" G6 S
讲几个简单的逻辑,原本我是准备在会上回答的,奈何没人问,sign。
3 O- j q" ?% E1、TSV,也就是所谓打孔(其实还包括一些其他3D特征的对象和rule),它们其实是一种Device,在加工上和一个FET管子是同等级别的特征的。但是,功能上的管子,例如NAND2,是工艺原生之子,而TSV是工艺后生之客。! h- j1 d2 a" A" g7 {. X" R
啥意思呢? 就是你定义一个2nm的工艺的时候,在第一天是不会考虑TSV这种器件的,因为它只会让你的刀变慢 :)
- r- a0 Y8 W0 V$ B% R% r( K几乎所有的TSV设计,都是在工艺成熟之后再叠加的。也就是工艺研发需要二次入场,这种研发的复杂度比原生第一次的研发要麻烦很多很多。& I/ ?. d% Z1 D, |2 s" I" T0 e& k/ P
既熟则安,既利则惰,Fab能在先进工艺赚钱,就没人愿意二次开发新器件。6 n' K/ M% D0 K3 z
而且越先进的工艺,原生Cell,就是NAND2越脆弱,越经历不起万针扎身的淬炼。你看AMD的Bottom就还只到6nm,很难前进的。) X* g7 K! J6 J9 z/ z+ `
) U& X1 G, T v# d U% [2、其实折叠互联这事,天生与工艺精度是反方向的。你再想想那个Gear Ratio,也就是何总那张图,要令上下 Die 之中,标准单元直连相通,便需要Bonding Pitch 逼近 Cell 尺寸,而Cell 愈小、工艺愈进,Pitch 便要愈小。
5 f8 M2 I6 }5 ~- \. _$ {$ L5 b, H( L你且算算,2nm的工艺如果要上下NAND2直接连上(也就是细粒度的逻辑折叠),需要Bonding Pitch压缩到多少nm? 能做得到吗? 细折易言,直通难行
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- |' \7 u( R- m6 k6 m6 k, }6 q3、工艺微缩之后,需要的金属层数也越来越多,例如Nvidia BlackWell,他的金属层数到22层了(手机多少我不知道),因为晶体管足够密,你必须要足够的金属层才能把它们互联起来。但是,这事又背道而驰了。金属层愈多,堆叠之后垂直路径愈长、愈复杂。还有一个一般人忽视的事情,金属层多了,再磨薄,这个wafer的bow值就会很大(懂得自然懂),对Bonding的精度、难度要求都变高无数。先写这几点吧 :) 需要再补充: t7 d. D. b# t
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所以,有些事,做一做,感受不一样。
6 _; u, g- o R s& F事非经过不知难,成如容易却艰辛。/ n& {6 y1 v! a. L
事在人为,道在躬行。4 J# g% H j& u7 [( N
不妨自信一点 :)* X O. C& _! [% s5 {
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