TA的每日心情 | 擦汗 2026-3-17 22:01 |
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我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后
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, O5 v) o q% n) e1 `8 c( B1 a' r, T关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下来了,后来再找发现这哥们应该是给删了,我贴在这里,反正爱坛小众,不太应该会有人追杀到这里
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+ r4 O, L2 B% i* e作者:Dio-晶- b: i- S9 h- [ e" i5 J0 l( f0 e
给韬一点自信
# x' M. {% n9 b& Y" g3 M7 d: c黑子蛮多,评价所谓韬不就是堆叠、3D集成、先进封装什么的,并引用台积电、AMD的材料为参照,是业界通用能力,叠加EUV还能更强 :)
$ `, u; S2 e i6 D3 a5 J9 x那为啥不做呢? 你想过没有? ; g9 i9 W8 Y8 ?( W$ X! y7 T9 Z
为何世人知其路,而罕至其深处?$ e. _2 z: P ~4 `0 p
诚然AMD也有MIXXX系列的3D结构,BroadCom也有相应3.5D什么的路标。
6 h( A0 v5 P2 b学术界论文更是汗牛充栋,工业届为啥没有再进几步,更深入折叠一下? , N* z3 W4 G& f1 _) t, n# C* s& {. A
其实这真的是一个岔路口!!!!!
! _) d) D& H# e7 |讲几个简单的逻辑,原本我是准备在会上回答的,奈何没人问,sign。7 H9 b5 n3 @2 u0 q7 s( `( n' z+ i
1、TSV,也就是所谓打孔(其实还包括一些其他3D特征的对象和rule),它们其实是一种Device,在加工上和一个FET管子是同等级别的特征的。但是,功能上的管子,例如NAND2,是工艺原生之子,而TSV是工艺后生之客。3 U7 L4 R- o: q! z/ y, ]' }+ ^
啥意思呢? 就是你定义一个2nm的工艺的时候,在第一天是不会考虑TSV这种器件的,因为它只会让你的刀变慢 :) $ j/ P, N( @% B; h; X) n$ |
几乎所有的TSV设计,都是在工艺成熟之后再叠加的。也就是工艺研发需要二次入场,这种研发的复杂度比原生第一次的研发要麻烦很多很多。: Q( K9 t5 c/ E2 `7 y
既熟则安,既利则惰,Fab能在先进工艺赚钱,就没人愿意二次开发新器件。
9 P' _. c/ D; U! y7 U而且越先进的工艺,原生Cell,就是NAND2越脆弱,越经历不起万针扎身的淬炼。你看AMD的Bottom就还只到6nm,很难前进的。
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2、其实折叠互联这事,天生与工艺精度是反方向的。你再想想那个Gear Ratio,也就是何总那张图,要令上下 Die 之中,标准单元直连相通,便需要Bonding Pitch 逼近 Cell 尺寸,而Cell 愈小、工艺愈进,Pitch 便要愈小。
: s# I/ M5 p7 ]+ H7 ^/ O你且算算,2nm的工艺如果要上下NAND2直接连上(也就是细粒度的逻辑折叠),需要Bonding Pitch压缩到多少nm? 能做得到吗? 细折易言,直通难行% a/ V! o X0 [; l
: i% U9 r4 L. x5 b) T3、工艺微缩之后,需要的金属层数也越来越多,例如Nvidia BlackWell,他的金属层数到22层了(手机多少我不知道),因为晶体管足够密,你必须要足够的金属层才能把它们互联起来。但是,这事又背道而驰了。金属层愈多,堆叠之后垂直路径愈长、愈复杂。还有一个一般人忽视的事情,金属层多了,再磨薄,这个wafer的bow值就会很大(懂得自然懂),对Bonding的精度、难度要求都变高无数。先写这几点吧 :) 需要再补充1 l5 w. q' `8 z4 C# {& j, n
) d2 V& o0 j9 S# ^' f8 O9 v3 D所以,有些事,做一做,感受不一样。
. g+ m/ k2 T! E: o! W事非经过不知难,成如容易却艰辛。- _' J# \# O% m. X" d
事在人为,道在躬行。
; C+ [0 d4 ~3 ^9 j不妨自信一点 :)
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