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标题: 再谈华为的逻辑折叠 [打印本页]

作者: 可梦之    时间: 2026-5-31 10:20
标题: 再谈华为的逻辑折叠
本帖最后由 可梦之 于 2026-5-31 10:23 编辑
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逻辑折叠制造商采用的w2w+hybrid bonding。先单独生产两个die,做好铜柱,然后打磨平整,face2face的键合。需要低温键合,不能超过300度,否则容易损坏芯片。同时在背面做TSV把管脚等引出来。% [% C* r% Q" j3 Y) l3 Z& ^
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hw厉害的地方在于把HB/TSV的密度都大大提高了。HB最小间距降低到了1.5um,TSV是6um。这样,两个die之间可以做到5000万级别的互联线。这使得更低层次的逻辑互联成为可能。否则HB互联只有几万几十万的情况下,只能做到logic到sram这种block级别的划分和互联。6 e: I7 e5 k7 y8 e7 ^
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当然这是有代价的,一个就是5000M互联线的良率问题,hw给的答案是冗余。但是clock/power这种可以做mesh的网络好做,signal连线怎么做冗余,总不能每个都占用两个hb做冗余吧。
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还有一个问题是散热。hw给的答案是做逻辑拆分和PR的时候就要考虑热,不要把两个发热高的放在一起。但是这又与逻辑折叠相悖,本就是要把相关的逻辑放在一起,这些大概率会同时发热。我看图片可能大部分还是logic和sram堆叠,控制发热。另外一个是提高封装散热。没有说细节,我怀疑做那么多TSV可能主要是为了散热,利用TSV的铜柱把热量从背面散出去。因为管脚不需要这么多TSV。1 D. |; j' F& I" v# b* X
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软件方面,hw承认现有EDA支持度还很低(包括国外EDA),主要靠人工,效率不高。EDA是比制造更大的瓶颈。hw的方案是在synthesis之前加入了partition这一层,划分模块和上下die,然后整个flow做迭代。这方面hw还是很nb的,虽然我猜做的是相对简单的,logic folding的潜力还有很多没有挖出来。+ T8 k, v( O/ I" W. Y

' ]7 s" t  V! Z; Y- [3D EDA学术研究一直有,最近也有北大的论文被炒的火热。但是学术界论文要落地还有很多问题。我们看没有哪家EDA厂商蹭这个热点,也说明的确没有突破,否则早大力宣传了。受影响最大的还是PR工具,前端工具相对影响不大。国内做PR的有鸿芯微纳、立芯等,2D的都问题多多。华大、概论等也开始做PR了,但是目前进度还不如前两家。hw自己也有搞,Macro-placement据说搞的不错,但是整体的PR是没有的,否则也不会扶持某家EDA公司。这里面placement相对容易些,学术论文比较多,routing更难,学术论文相对都少不少。( U0 C/ t% Y$ `* B2 O# c

& {. a) Q) [8 {7 d, i0 t, a: B对STA影响相比要小些,RC抽参工具将HB抽象之后,STA核心算法不用变,除非垂直的HB的电感效应太大不能忽略(大概率不会发生)。主要影响是MMMC和OCV。如hw所说,corner数量大大增加,同一个pipeline,一个ff是SS,另外一个ff是FF的情况之前也不会发生。OCV方面,没有具体数据。但是提到HB的overlay accuracy是0.5um。要知道HB pitch已经降低到1.5um,铜柱直径不会超过1.0um,那么对齐最大差0.5um的情况下,这个偏差已经非常显著了。当然HB的铜柱比较粗,电阻也比较小,寄生电容不太大的情况下,还是可控的。更好的一点是,对齐错位应该是整个die一起的,所有的HB都偏差0.5um,之间的variation也不用很大。
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逻辑折叠也是有物理上限的。f2f的方案只能做两层堆叠。多层肯定要用tsv,鲲鹏给的3层方案就是上面两层core用f2f,下面的uncore用tsv连接。用tsv的话,连接数是个瓶颈。但另一方面,多层的logic拆分,肯定会造成die-to-die之间的连接数陡增。TSV要做密的话,wafer可能要进一步减薄,但是现在已经从几百微米减薄到10微米之内,如果进一步减薄,良率怎么保证。* j1 W/ J: p+ R0 S

' A7 q  w5 E! g( Z" f  y" E" W, S还有一个大瓶颈是散热。手机芯片几w几十w的堆叠在一起问题还不太大。大芯片上百w,AI芯片可能几千w甚至更多,堆叠起来散热如何解决?黄说NV不用是有技术原因的,一方面NV卡现在散热都是头疼问题,进一步堆叠挑战过大。另一方面,现在AI芯片显存问题更严重,与其logic堆叠,不如多搞几层HBM,把显存提上去。
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总之,hw是很牛逼的,在处处受限的情况下闯出一条路来,有可能是一条康庄大道。生物进化史上类似事情无数次发生。但是现在就断定这条路一定比原来的路更好,为时尚早。芯片行业集中了全世界的聪明人才,即便海外也有很多华人,并不存在一个想法只有你能想到,别人想不到,区别在于具体的实现细节。赢学大家都爱,但是不符合科学/科技发展规律。
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作者: 大黑蚊子    时间: 2026-5-31 13:37
HB最小间距降低到了1.5um,TSV是6um。这样,两个die之间可以做到5000万级别的互联线。
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我在知乎上看到夏晶(华为鲲鹏/昇腾的首席架构师)在某个答案的评论里吐槽过,说这个指标太保守了
作者: 大黑蚊子    时间: 2026-5-31 13:42
3D EDA学术研究一直有,最近也有北大的论文被炒的火热。但是学术界论文要落地还有很多问题。我们看没有哪家EDA厂商蹭这个热点,也说明的确没有突破,否则早大力宣传了。受影响最大的还是PR工具,前端工具相对影响不大。国内做PR的有鸿芯微纳、立芯等,2D的都问题多多。华大、概论等也开始做PR了,但是目前进度还不如前两家。hw自己也有搞,Macro-placement据说搞的不错,但是整体的PR是没有的,否则也不会扶持某家EDA公司。这里面placement相对容易些,学术论文比较多,routing更难,学术论文相对都少不少。

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据说EDA这方面是两家,立芯和行芯,都有华为哈勃的投资: B  e) f9 w5 C
还有小道消息说这两家的能力比华为自己的EDA团队强
作者: 可梦之    时间: 2026-5-31 13:58
大黑蚊子 发表于 2026-5-31 13:37
( a( E( o! f8 N, C: R$ u' D5 g我在知乎上看到夏晶(华为鲲鹏/昇腾的首席架构师)在某个答案的评论里吐槽过,说这个指标太保守了 ...
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鲲鹏/昇腾芯片更大需要更多的互联线,所以密度还要进一步增加。所以现在鲲鹏只是做chip folding,一个die是逻辑的core,一个die是其他的uncore。明年才会做三层,用上logic folding。
作者: 可梦之    时间: 2026-5-31 14:02
大黑蚊子 发表于 2026-5-31 13:42
* b0 i" D8 c5 V1 d7 m. v据说EDA这方面是两家,立芯和行芯,都有华为哈勃的投资$ t* R6 ~& O4 A/ E  Z
还有小道消息说这两家的能力比华为自己的EDA团队 ...
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立芯有哈勃投资,行芯应该没有。但行芯的RC工具的确进入了hw。4 K2 L: x6 e4 ]
后一句认可。华为搞EDA研发不是舒适区,还是做大甲方滋润。
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作者: 大黑蚊子    时间: 2026-5-31 15:13
可梦之 发表于 2026-5-31 13:58
4 X, g/ W; }$ m$ H. w鲲鹏/昇腾芯片更大需要更多的互联线,所以密度还要进一步增加。所以现在鲲鹏只是做chip folding,一个die ...
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我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后/ r9 c* a- G8 p/ b# t2 ?, u  B

4 r6 M8 J; t) B) j关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下来了,后来再找发现这哥们应该是给删了,我贴在这里,反正爱坛小众,不太应该会有人追杀到这里/ T1 H  F* u; P; C7 f) {: O
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作者:Dio-晶! m  A4 w1 o0 y: P+ Q2 e
给韬一点自信: u9 x, m$ i5 V4 e- U
黑子蛮多,评价所谓韬不就是堆叠、3D集成、先进封装什么的,并引用台积电、AMD的材料为参照,是业界通用能力,叠加EUV还能更强 :)" a. y' }; u$ `( r6 `  q
那为啥不做呢? 你想过没有?
2 j8 ]2 H* Q: t% a4 N为何世人知其路,而罕至其深处?& ?. c% C6 C0 r! d$ }
诚然AMD也有MIXXX系列的3D结构,BroadCom也有相应3.5D什么的路标。7 y/ _4 F- O& d, t
学术界论文更是汗牛充栋,工业届为啥没有再进几步,更深入折叠一下?
$ b  F. D! @2 f  J3 }9 S其实这真的是一个岔路口!!!!!$ ^" Z  ^# g! I% V2 a) u
讲几个简单的逻辑,原本我是准备在会上回答的,奈何没人问,sign。
* u/ m% t3 v, c$ v8 p+ L5 @1、TSV,也就是所谓打孔(其实还包括一些其他3D特征的对象和rule),它们其实是一种Device,在加工上和一个FET管子是同等级别的特征的。但是,功能上的管子,例如NAND2,是工艺原生之子,而TSV是工艺后生之客。, n, U' b  d7 i7 ~7 j8 r. j5 F: A
啥意思呢? 就是你定义一个2nm的工艺的时候,在第一天是不会考虑TSV这种器件的,因为它只会让你的刀变慢 :)
9 t4 }& e% J* I4 ~' q* c$ A0 [几乎所有的TSV设计,都是在工艺成熟之后再叠加的。也就是工艺研发需要二次入场,这种研发的复杂度比原生第一次的研发要麻烦很多很多。
. l  t* l! [2 v; _% h' y$ M4 ]/ p既熟则安,既利则惰,Fab能在先进工艺赚钱,就没人愿意二次开发新器件。) E! }  ~# j% r* f+ q! _
而且越先进的工艺,原生Cell,就是NAND2越脆弱,越经历不起万针扎身的淬炼。你看AMD的Bottom就还只到6nm,很难前进的。
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2、其实折叠互联这事,天生与工艺精度是反方向的。你再想想那个Gear Ratio,也就是何总那张图,要令上下 Die 之中,标准单元直连相通,便需要Bonding Pitch 逼近 Cell 尺寸,而Cell 愈小、工艺愈进,Pitch 便要愈小。
3 z1 m; O$ r  \( c5 X- W你且算算,2nm的工艺如果要上下NAND2直接连上(也就是细粒度的逻辑折叠),需要Bonding Pitch压缩到多少nm? 能做得到吗? 细折易言,直通难行
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+ X" l  i  u- X, S( d; B3、工艺微缩之后,需要的金属层数也越来越多,例如Nvidia BlackWell,他的金属层数到22层了(手机多少我不知道),因为晶体管足够密,你必须要足够的金属层才能把它们互联起来。但是,这事又背道而驰了。金属层愈多,堆叠之后垂直路径愈长、愈复杂。还有一个一般人忽视的事情,金属层多了,再磨薄,这个wafer的bow值就会很大(懂得自然懂),对Bonding的精度、难度要求都变高无数。先写这几点吧  :) 需要再补充( @2 A. t1 m1 r6 X0 ^; B
  D5 M4 \% W9 ]) u2 K
所以,有些事,做一做,感受不一样。
) E' n  V1 {+ W+ |* Z8 m4 W4 ?' D事非经过不知难,成如容易却艰辛。& i9 S; h* O5 R% r: q
事在人为,道在躬行。
1 e( x# M0 w( T  t不妨自信一点 :)
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作者: 可梦之    时间: 2026-5-31 15:40
大黑蚊子 发表于 2026-5-31 15:13
* }, C$ G6 b9 a我看那个路线图做不到三层吧,应该要到28年以后
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0 Z% @4 ?1 G) l, m! ~$ E关于夏晶的发言,还有这么一段,我当初看到的时候给记下 ...

% Q" y+ i  U+ o" A我看过这个。诚然,工艺越先进,密度越高,需要TSV/HB的密度也越高,肯定越难。但是先进封装/logic folding与先进工艺是解耦的,7nm能做logic folding,2nm自然也能做(自然需要更先进的封装)。hw没有EUV能搞出这个来是很nb,但没必要争竞别人搞不出来。
作者: orleans    时间: 2026-5-31 22:17
凡事绕不开需求和可能,对于芯片的需求永远是更快更强更便宜。物理缩微属于直道,直道不通的时候各种绕道而行就会有人尝试。只是绕路的艰辛不比直道更容易。当你在绕道上走远了,别人想跟也不容易,就像直路前行的领头人别人想追上也不是一朝一夕的事
作者: 可梦之    时间: 2026-5-31 23:42
orleans 发表于 2026-5-31 22:17
; z5 m9 V* A9 K2 T" Y8 e4 i凡事绕不开需求和可能,对于芯片的需求永远是更快更强更便宜。物理缩微属于直道,直道不通的时候各种绕道而 ...
4 ~7 L: L5 M% J( i& e. C
其实直道早就走不通了,最小尺寸一致卡在十几nm下不去了。现在所谓的7nm/2nm都是等效出来的,为了市场宣传让大家好理解。真实的制造已经非常复杂的绕道了。




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